1470E多通道電化學(xué)測試系統實(shí)驗介紹

　　1470E多通道電化學(xué)測試系統實(shí)驗：

　　1.多通道DC測試功能

　　1470E的每個(gè)獨立恒電位/恒電流儀通道是由的高性能數字信號處理器所控制，提供準確瞬時(shí)的測試控制、數據平均和安全限制功能?？蛇M(jìn)行較寬范圍的恒電位（電壓控制）和恒電流（電流控制）測試技術(shù)，其中包括：

　　•開(kāi)路電位

　　•循環(huán)伏安

　　•恒定和掃描電位/電流控制

　　•高速電位/電流脈沖技術(shù)（如電池測試）

　　•電位/電流階躍

　　•線(xiàn)性極化電阻

　　•歐姆降測量（的分析等效串聯(lián)電阻ESR）

　　2.高速多通道阻抗測試

　　單正弦波相關(guān)技術(shù)

　　單正弦波相關(guān)是世界各地的研究人員*的zui準確和可重現的技術(shù)阻抗研究方法，尤其針對電池阻抗研究。Solartron的高性能145x頻響儀供非常高的測量速率，能在短短幾秒鐘完成從10Hz至1MHz的電池阻抗掃描！單正弦相關(guān)技術(shù)覆蓋系統（從10mHz至1MHz）的全部帶寬。

　　多正弦波/傅立葉變換分析

　　單正弦相關(guān)技術(shù)提供了非?？焖俚淖杩狗治?。但在較低的頻率，例如在電池擴散特性分析中，需要測量時(shí)間可能會(huì )延長(cháng)，因為在每個(gè)頻率下必須至少有一個(gè)周期的波形。這可能會(huì )導致成幾個(gè)小時(shí)的測試運行。例如一個(gè)單波1mHz的測量至少需要1000秒（＞16分鐘），但是145x系列頻響儀，提供了另一種計量方法（多正弦/快速傅立葉變換FFT分析），后者可以在系統的整個(gè)頻率范圍內使用，但對于低頻率的測試特別有效。

　　多個(gè)正弦波頻率同時(shí)用于測試體系，提供整個(gè)頻率范圍內的激勵。多正弦波波形類(lèi)似于隨機噪聲，但實(shí)際上是選擇的幾個(gè)波形的疊加。被測試系統的電位和電流波形同時(shí)被捕獲和分析，同時(shí)利用FFT技術(shù)和頻譜數據的比率，可得到在原激勵波形的頻率阻抗的結果。例如，三個(gè)數量級頻率可以同步獲得，如從1Hz到1mHz的阻抗結果，在單次測量以1mHz為帶頻的基礎上需要1000秒（16分鐘）。相比之下，以單正弦波從1Hz至1mHz，每數量級10個(gè)點(diǎn)測量，需時(shí)約80分鐘（5倍的時(shí)間）。這使得多正弦/FFT的方法非常適合對測量速度要求較高的實(shí)驗，例如，隨時(shí)間的變化的體系必須在體系變化前完成快速測量。FFT技術(shù)非?？焖?，但由于涉及到多個(gè)頻率同時(shí)測量，準確度可能低于單一正弦相關(guān)波。145x系列頻響儀為此提供了一些非常先進(jìn)的設施，以幫助用戶(hù)zui大限度地減少這些影響：

　　•用戶(hù)可選擇在多波測量時(shí)的頻率；

　　•一個(gè)系統默認的波形頻率選擇清單，幫助客戶(hù)選擇適當的頻率；

　　•自動(dòng)波形優(yōu)化，盡量減少多正弦波任何雜峰。

　　頻率選擇功能，在總體激勵水平不變情況下，讓多波測量利用更少的頻率，可以降低測量噪聲，使得每個(gè)頻率有更高相對幅值。

　　頻率選擇功能，可以減少電化學(xué)體系非線(xiàn)性所引起的問(wèn)題，并獲得對數間隔的數據;給予非常相似的單正弦掃描技術(shù)的結果，同時(shí)保留了速度優(yōu)勢。